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Journal Of Electronic Imaging 加入收藏

電子影像雜志 SCIE

Journal Of Electronic Imaging

約4.0個月 審稿時間

4區中科院分區

Q4JCR分區

1影響因子

1017-9909

1560-229X

J ELECTRON IMAGING

UNITED STATES

工程技術 - 成像科學與照相技術

1992

60

Quarterly

English

316

0.27...

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期刊簡介

電子影像雜志(Journal Of Electronic Imaging)是一本由SPIE出版的一本工程技術-成像科學與照相技術學術刊物,主要報道工程技術-成像科學與照相技術相關領域研究成果與實踐。本刊已入選來源期刊,該刊創刊于1992年,出版周期Quarterly。2021-2022年最新版WOS分區等級:Q4,2023年發布的影響因子為1,CiteScore指數1.7,SJR指數0.264。本刊非開放獲取期刊。

《電子成像雜志》發表電子成像領域所有技術領域的同行評審論文,這些論文通常涉及電子成像系統的設計、工程和應用。

中科院分區信息

電子影像雜志2023年12月升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
電子影像雜志2022年12月升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
電子影像雜志2021年12月舊的升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
電子影像雜志2021年12月基礎版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
電子影像雜志2021年12月升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
電子影像雜志2020年12月舊的升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
名詞解釋:

中科院JCR期刊分區(又稱分區表、分區數據)是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果。在中科院期刊分區表中,主要參考3年平均IF作為學術影響力,最終每個分區的期刊累積學術影響力是相同的,各區的期刊數量由高到底呈金字塔式分布。

JCR分區信息

Journal Of Electronic Imaging(2023-2024年最新版數據)
按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352
19.2%
學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36
15.3%
學科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119
17.2%
按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354
18.5%
學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36
15.28%
學科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120
13.75%
名詞解釋:

湯森路透每年出版一本《期刊引用報告》(Journal Citation Reports,簡稱JCR)。JCR對86000多種SCI期刊的影響因子(Impact Factor)等指數加以統計。JCR將收錄期刊分為176個不同學科類別在JCR的Journal Ranking中,主要參考當年IF,最終每個分區的期刊數量是均分的。

期刊數據統計

1、Cite Score(2024年最新版)
學科類別 分區 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q3 540 / 797
32%
大類:Engineering 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 167 / 224
25%
大類:Engineering 小類:Computer Science Applications Q3 610 / 817
25%
名詞解釋:

CiteScore:該指標由Elsevier于2016年提出,指期刊發表的單篇文章平均被引用次數。CiteScorer的計算方式是:例如,某期刊2022年CiteScore的計算方法是該期刊在2019年、2020年和2021年發表的文章在2022年獲得的被引次數,除以該期刊2019年、2020年和2021發表并收錄于Scopus中的文章數量總和。

2、綜合數據
3、本刊綜合數據對比及走勢

文章引用數據

文章名稱 引用次數
  • Image privacy scheme using quantum spinn...

    13
  • Defogging of road images using gain coef...

    10
  • SWCD: a sliding window and self-regulate...

    10
  • Single image dehazing using a multilayer...

    10
  • Optimized fuzzy cellular automata for sy...

    9
  • Infrared and visible image fusion based ...

    8
  • Image segmentation via multilevel thresh...

    8
  • Joint classification of multiresolution ...

    7
  • Improved opponent color local binary pat...

    6
  • Combining background subtraction algorit...

    6

期刊被引用數據

期刊名稱 引用次數
  • IEEE ACCESS

    167
  • J ELECTRON IMAGING

    163
  • MULTIMED TOOLS APPL

    118
  • SENSORS-BASEL

    67
  • SIGNAL PROCESS-IMAGE

    44
  • APPL SCI-BASEL

    29
  • IEEE T IMAGE PROCESS

    29
  • IET IMAGE PROCESS

    29
  • OPT EXPRESS

    27
  • NEUROCOMPUTING

    26

期刊引用數據

期刊名稱 引用次數
  • IEEE T IMAGE PROCESS

    573
  • IEEE T PATTERN ANAL

    435
  • J ELECTRON IMAGING

    163
  • PATTERN RECOGN

    159
  • INT J COMPUT VISION

    153
  • NEUROCOMPUTING

    118
  • IEEE T CIRC SYST VID

    105
  • ACM T GRAPHIC

    74
  • MULTIMED TOOLS APPL

    74
  • PATTERN RECOGN LETT

    73

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