《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)刊號(hào)?ISSN：0923-8174，電子期刊的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)刊號(hào)：1573-0727。

創(chuàng)刊時(shí)間：1990年

出版周期：Bimonthly

出版語(yǔ)言：English

國(guó)際簡(jiǎn)稱：J ELECTRON TEST

研究方向：工程：電子與電氣 - 工程技術(shù)

期刊定位與內(nèi)容：

電子測(cè)試?yán)碚撆c應(yīng)用雜志(Journal Of Electronic Testing-theory And Applications)是一本由Springer US出版的學(xué)術(shù)刊物，主要報(bào)道工程：電子與電氣-工程技術(shù)相關(guān)領(lǐng)域研究成果與實(shí)踐。本刊已入選來(lái)源期刊，該刊創(chuàng)刊于1990年，出版周期Bimonthly。

《電子測(cè)試?yán)碚撆c應(yīng)用雜志》發(fā)表專家撰寫的簡(jiǎn)短易懂的評(píng)論，重點(diǎn)介紹工程：電子與電氣的最新關(guān)鍵主題。每篇文章都是對(duì)該主題的最新、完整的總結(jié)，方便尚未深入研究的人閱讀。

《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》是傳播電子測(cè)試領(lǐng)域研究和應(yīng)用信息的國(guó)際論壇。這是唯一一本專門針對(duì)電子測(cè)試的雜志。《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過同行評(píng)審，以確保原創(chuàng)性、及時(shí)性和相關(guān)性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強(qiáng)調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料，但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會(huì)議論文，只要符合該雜志的同行評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)，編輯也會(huì)酌情發(fā)表。 《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評(píng)論文章，以促進(jìn)對(duì)最新技術(shù)的更好理解。

《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》的報(bào)道包括但不限于以下主題：

VLSI 設(shè)備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測(cè)試；

模擬和數(shù)字電子電路的測(cè)試；

微處理器、存儲(chǔ)器和信號(hào)處理設(shè)備的測(cè)試；

故障建模；

測(cè)試生成；

故障模擬；

可測(cè)試性分析；

可測(cè)試性設(shè)計(jì)；

可測(cè)試性綜合；

內(nèi)置自測(cè)試；

測(cè)試規(guī)范；

容錯(cuò)；

形式驗(yàn)證硬件；

驗(yàn)證模擬；

設(shè)計(jì)調(diào)試；

測(cè)試和診斷的人工智能方法和專家系統(tǒng)；

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）；

測(cè)試夾具；

電子束測(cè)試系統(tǒng)；

測(cè)試編程；

測(cè)試數(shù)據(jù)分析；

測(cè)試經(jīng)濟(jì)性；

質(zhì)量和可靠性；

CAD 工具；

晶圓級(jí)集成器件測(cè)試；

可靠系統(tǒng)測(cè)試；

制造良率和良率改進(jìn)設(shè)計(jì)；

故障模式分析和工藝改進(jìn)

出版周期與發(fā)文量：

該雜志出版周期Bimonthly。近年來(lái)，該期刊的年發(fā)文量約為43篇。

學(xué)術(shù)影響力：

2021-2022年最新版WOS分區(qū)等級(jí)：Q4，2023年發(fā)布的影響因子為1.1，CiteScore指數(shù)2，SJR指數(shù)0.271。本刊非開放獲取期刊。

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