《X-ray Spectrometry》國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)刊號(hào)?ISSN：0049-8246，電子期刊的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)刊號(hào)：1097-4539。

創(chuàng)刊時(shí)間：1972年

出版周期：Bimonthly

出版語(yǔ)言：Multi-Language

國(guó)際簡(jiǎn)稱：X-RAY SPECTROM

研究方向：物理 - 光譜學(xué)

期刊定位與內(nèi)容：

X 射線光譜法(X-ray Spectrometry)是一本由John Wiley and Sons Ltd出版的學(xué)術(shù)刊物，主要報(bào)道物理-光譜學(xué)相關(guān)領(lǐng)域研究成果與實(shí)踐。本刊已入選來源期刊，該刊創(chuàng)刊于1972年，出版周期Bimonthly。

《X 射線光譜法》發(fā)表專家撰寫的簡(jiǎn)短易懂的評(píng)論，重點(diǎn)介紹光譜學(xué)的最新關(guān)鍵主題。每篇文章都是對(duì)該主題的最新、完整的總結(jié)，方便尚未深入研究的人閱讀。

《X 射線光譜法》致力于快速發(fā)表有關(guān)使用電子、X 射線光子、質(zhì)子、γ 和 γ-x 源的 X 射線光譜法理論和應(yīng)用的論文。

這本知名期刊涵蓋了技術(shù)、方法和設(shè)備的進(jìn)步，為討論更復(fù)雜的 X 射線分析方法提供了理想的平臺(tái)。

涵蓋了波長(zhǎng)和能量色散系統(tǒng)以及一系列數(shù)據(jù)處理方法，從最簡(jiǎn)單到非常復(fù)雜的軟件程序。還介紹了有關(guān) X 射線光譜法在結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用的論文以及涵蓋環(huán)境分析和監(jiān)測(cè)、藝術(shù)和考古研究、礦物學(xué)、法醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)、表面科學(xué)和材料分析、生物醫(yī)學(xué)和制藥應(yīng)用等廣泛領(lǐng)域的應(yīng)用論文。

出版周期與發(fā)文量：

該雜志出版周期Bimonthly。近年來，該期刊的年發(fā)文量約為71篇。

學(xué)術(shù)影響力：

2021-2022年最新版WOS分區(qū)等級(jí)：Q3，2023年發(fā)布的影響因子為1.5，CiteScore指數(shù)3.1，SJR指數(shù)0.27。本刊非開放獲取期刊。

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