首頁 > 期刊 > 自然科學(xué)與工程技術(shù) > 信息科技 > 無線電電子學(xué) > 功能材料與器件學(xué)報 > AlGaN基日盲紫外探測器外延關(guān)鍵技術(shù) 【正文】
摘要:以AlGaN為代表的第三代寬禁帶半導(dǎo)體材料是制備紫外探測器等光電器件的關(guān)鍵材料,是近年來國內(nèi)外研究的熱點。然而由于缺乏同質(zhì)外延襯底,異質(zhì)外延獲得的AlGaN材料晶體質(zhì)量普遍較差且高Al組分AlGaN摻雜困難,嚴(yán)重限制了紫外探測器的性能。制備高性能AlGaN基日盲紫外探測器的關(guān)鍵是外延生長高質(zhì)量的AlGaN材料并實現(xiàn)高效摻雜。本文綜述了AlGaN基日盲紫外探測器材料外延生長的關(guān)鍵技術(shù)以及國內(nèi)外研究進(jìn)展等。
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主管單位:中國科學(xué)院;主辦單位:中國材料研究學(xué)會;中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所