摘要：為解決磁耦數(shù)字隔離器的瞬態(tài)共模抑制(CMTI)不能準(zhǔn)確測(cè)試的問題,研究了磁耦合數(shù)字隔離器瞬態(tài)共模抑制的測(cè)試及耦合機(jī)理。對(duì)耦合電阻、電容兩個(gè)耦合參數(shù)進(jìn)行了仿真驗(yàn)證,對(duì)仿真得到的器件輸出波形進(jìn)行抓取與分析,說明了電路中不同測(cè)試條件對(duì)仿真結(jié)果的影響。以ADI公司的典型磁耦數(shù)字隔離器ADUM1200型為例,采用小電容大電阻模型模擬實(shí)際耦合,分析并且明確了耦合電容大小狀態(tài),驗(yàn)證磁耦合數(shù)字隔離器瞬態(tài)共模抑制仿真方法是否具有一定的有效性。