摘要：為了提高渦流探頭檢測厚壁結構中深裂紋的能力,使用ANSYS有限元模型研究了圓形和矩形兩類渦流激勵線圈的提離效應對渦流滲透深度的影響,發(fā)現(xiàn)當線圈軸線和材料表面之間的夾角發(fā)生變化時,其所產(chǎn)生的提離效應會對渦流的分布產(chǎn)生較大影響。通過分析材料表面各點處渦流滲透深度的變化情況,發(fā)現(xiàn)當矩形線圈傾斜60°時進行激勵可在材料中感應出最大滲透深度的渦流,用于深層缺陷的檢測。為了提高深裂紋的檢測效果,對矩形線圈的參數(shù)進行了優(yōu)化,進一步提高了探頭的性能。